人工晶狀體半成品測量儀有什么優(yōu)勢?
更新時(shí)間:2019-05-20 點(diǎn)擊次數(shù):1939
1.測量散光,軸線及殘余散光。
2.數(shù)值化和圖形化整個(gè)表面的曲率分布。
3.測量鏡片表面任何區(qū)域的曲率半徑。
4.干涉條紋可以體現(xiàn)整個(gè)表面的光學(xué)特征。
5.對(duì)刀分析功能能夠提供加工過程中刀具的各種珍貴信息,如刀具精度,是否對(duì)準(zhǔn),是否磨損等。
6.不需要特殊的防震平臺(tái)。
7.可測量樣品的整個(gè)表面區(qū)域,包括環(huán)形區(qū)域。
8.可以輕易分辨細(xì)微的表面缺陷,即便是某些其他設(shè)備不可見的細(xì)節(jié)。